Numer: 05/2011 Str. 84
Autorzy: Andrzej Kuczyński :
Tytuł: Wykrywanie uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych zawierających tranzystory MOS
Streszczenie: W pracy przedstawiono metodę wykrywania uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych zawierających tranzystory MOS. W zastosowanym algorytmie informacje o właściwościach układu są zakodowane w przebiegu prądu źródła, zasilającego obwód w stanie nieustalonym. Sygnał testowy jest filtrowany, by uwypuklić właściwości układu. Aby zachować istotę informacji o układzie, jako wektory uczące sieć neuronową zastosowano współczynniki wielomianów aproksymujących wybrany składnik sygnału testowego. Działanie algorytmu zilustrowano na praktycznym przykładzie.
Słowa kluczowe: układy analogowe, wykrywanie uszkodzeń, dyskretna transformacja falkowa, jednokierunkowe sieci neuronowe.