Przegląd Elektrotechniczny
tttt/div>

Oldest magazine of Polish electrician. It appears since 1919.

strona w języku polskim english page



No/VOL: 04/2007 Page no. 50-53

Authors: Anthony Moses , Stanisław Zurek , Philip Anderson , Philip Marketos :

Title: Wpływ rozdzielczości cyfrowej systemu pomiarowego na dokładność pomiaru strat w aparacie Epsteina

Abstract: Cyfrowe i komputerowe układy pomiarowe są szeroko stosowane do pomiarów właściwości magnetycznych materiałów magnetycznie miękkich. Producenci cyfrowych kart pomiarowych dążą do ciągłego udoskonalania dokładności i rozdzielczości pomiarowej. Całkowita dokładność pomiarowa urządzenia jest jego bardzo istotnym parametrem. Niemniej jednak, duża rozdzielność pomiarowa jak również częstotliwość próbkowania nie muszą być krytycznymi czynnikami. W artykule dokonano analizy strat mocy zmierzonych w aparacie Epsteina dla blachy orientowanej przy użyciu różnych rozdzielczości pomiarowych napięcia dla generacji I akwizycji sygnałów (przy częstotliwości magnesowania 50 Hz). Analiza wykazuje, że zmierzone straty mocy różnią się tylko o 0,4 % pomiędzy największą (16 bitów) I najmniejszą (8 bitów) rozdzielczością. Wyniki porównano z symulacją teoretyczną, która potwierdza, że obliczone straty mocy nie zależą od rozdzielczości ani od częstotliwości próbkowania urządzenia pomiarowego.

Key words: pomiary cyfrowe, rozdzielczość, dokładność pomiaru, straty mocy, aparat Epsteina

wstecz