Numer: 10/2011 Str. 110
Autorzy: Piotr Jantos , Tomasz Golonek , Jerzy Rutkowski :
Tytuł: Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego
Streszczenie: W artykule przedstawiono metodę sterowanego specyfikacją testowania analogowych układów elektronicznych. Opracowana metoda bazuje na wykorzystaniu cech odpowiedzi układu na wymuszenie testujące. W przestrzeniach zdefiniowanych przez wartości poszczególnych cech odpowiedzi testowanego układu oraz kolejne specyfikacje, znajdowana jest aproksymacja dystrybucji wartości specyfikacji z wykorzystaniem triangulacji Delaunay’a. Tak przygotowane „mapy” działania układu stosowane są do estymacji wartości specyfikacji, a następnie, za pomocą klasyfikatora neuronowego, do stwierdzenia, czy układ testowany jest sprawny.
Słowa kluczowe: triangulacja Delaunaya, testowanie funkcjonalne, analogowe układy elektroniczne, sztuczna sieć neuronowa.