Numer: 11/2016 Str. 23
Autorzy: Zbigniew Czaja , Bogdan Bartosiński :
Tytuł: Metoda testowania części analogowych analogowo-cyfrowych systemów elektronicznych wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1
Streszczenie: Przedstawiono nowe rozwiązanie testera JTAG BIST przeznaczonego do testowania torów analogowych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej, w której tor analogowy pobudzany jest buforowanym sygnałem z linii TMS, a odpowiedź czasowa tego toru na ten sygnał jest próbkowana przez przetwornik A/C wyposażony w interfejs JTAG. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowym układzie badanym
Słowa kluczowe: magistrala IEEE1149.1, diagnostyka uszkodzeń, mikrokontrolery, układy analogowe.