Numer: 08/2016 Str. 162
Autorzy: Marcin Turek :
Tytuł: Symulacje PIC plazmy w źródle jonów ujemnych
Streszczenie: W artykule zaprezentowano bazujący na metodzie Particle-In-Cell model numeryczny plazmy w źródle jonów ujemnych. Omówiono wpływ napięcia ekstrakcyjnego na rozkład potencjału i gęstości składników plazmy. Zaobserwowano powstawanie bariery potencjału w pobliżu powierzchni emitującej jony H- , jak również nietypowy (mający dwa maksima) profil gęstości ładunku w ekstrahowanej wiązce jonów H-. Otrzymana na drodze symulacji krzywa prądowo-napięciowa ulega nasyceniu dla napięć ekstrakcyjnych powyżej 20 kV.
Słowa kluczowe: źródła jonów ujemnych, symulacje komputerowe, metoda Particle-In-Cell